国营光华无线电仪器厂国营光华无线电仪器厂位于六安市三里桥光华路，占地面积10．54万平方米，建筑面积5．42万平方米。全民所有制企业，隶属电子工业部，1985年12月28日下放安徽省，由安徽省电子工业局代管，是电子仪器专业生产厂。代号为767厂。该厂建于1965年。前身为南京无线电工业学校仪器室，经第四机械工业部批准，于1966年，搬迁至安徽省六安县组建。职工179人，设备仪器68台。先后隶属第四机械工业部、机械电子工业部、电子工业部。建厂初期，主要仿制生产5厘米、2厘米微波信号源（全电子管XFL—6型、XFL—7型厘米波标准信号发生器）。搬迁当年，生产微波仪器44台，工业产值59万元，并完成GLX—11型小功率计设计定型。1968～1975年，职工增至561人。投资291．71万元，新建装配、机加工大楼和工模具、热处理、冷作车间等。产品向晶体管化发展，新增微波量热式功率计、微波相位计系列产品。年产仪器能力达到300台（套）。1976～1980年，职工增至700人。投资260万元，新建产品设计所大楼和专业计量室等。进一步扩大仪器规模，研制生产1～40GHz频段的相位、功率、衰减参数测量仪器，计量标准和标准信号源，网络分析仪等。1980年，生产仪器297台（套）。1981～1987年，职工增至819人。产品向智能化发展，相继向通讯、教育、通用、医疗、同轴、波导元件等多种仪器领域扩展。投资384万元，从国外引进CAD系统和印制电路板关键设备，研制生产半导体器件、集成电路测试仪系列产品。1985年，生产仪器1426台（套），波导元件1595只。1986年，评为电子工业部企业整顿先进单位。1987年，工业产值520．6万元，利税71．9万元，评为电子工业部双文明建设先进单位，并获安徽省技术开发先进单位。1988～1991年，对半导体器件和集成电路测试仪进行技术改造，使开发设计和生产加工能力进一步提高。列入国家“八五”计划的集成电路测试仪基本建设项目—“908”工程，投资9968万元，经过调研、论证，分别安排在合肥高新技术产业开发区和上海浦东开发区实施建设。建厂以来，相继研制生产微波小功率计、微波信号源、衰减校准装置、微波网络分析仪、集成电路测试仪、晶体管图示仪、微波同轴元器件组件等7大类152种产品，其中36种产品获得省、部级以上奖励。主要有：1978年，BX24型微波相位计和T07型衰减校准装置获全国科学技术大会奖。1980年，GX12M3A型同轴热敏电阻和GX12M1A数字功率指示器，分别获第四机械工业部重大技术改进成果奖和安徽省科技进步奖。1985年，BX25型微波相位计、G013型小功率计量值传递装置，分别获第四机械工业部科技成果二等奖。1982年，HW1型微波网络分析仪获第四机械工业部科技进步一等奖。1985年，HW1型微波网络分析仪获电子工业部科技成果二等奖。1986年，GH3701型智能衰减校准装置、HW1智能网络分析仪获电子工业部科技进步一等奖、安徽省科技进步奖。1987年，光华牌GX12M1B型接口数字式功率计、光华牌TS23M1型精密同轴衰减器评为机械电子工业部优质产品，光华牌JT—1型晶体管特性图示仪评为安徽省优质产品。1988年，光华牌CH3123型集成电路测试仪获电子工业部科技成果二等奖，光华牌HW2型智能网络分析仪、光华牌GH4821型晶体管特性图示仪评为电子工业部优质产品，后者并获全国质量评比一等奖。1991年，光华牌GH4821型晶体管特性图示仪获国家科技成果奖。在研制、生产军用仪器的同时，进入80年代后，按照“保军转民”的要求，先后研制生产一批电子应用产品和灯具。其中灯具已由单一的日光灯发展到应急灯、密封灯、混光灯等几十个品种。在出口方面，XB33型和XB34型信号源、JT—1G型晶体管特性图示仪、TO—7型衰减校准装置、HW1型微波网络分析仪、XFL—6厘米波信号发生器、GLX—11型小功率计等仪器和起钉器，先后分别出口巴基斯坦、朝鲜、罗马尼亚、阿尔巴尼亚、坦桑尼亚和美国。在为国防重大工程配套方面，XFL—6B型微波信号源、XB33型微波信号源、GX—12型微波功率计、S波滤波器、中功率脉冲衰减器、E8210型稳幅组件、高速同轴开关、SMA型可变衰减器、SMA型系列同轴元件等一批产品，先后为中国歼7、歼8飞机和雷达、原子弹、导弹、卫星、核潜艇等试验配套，作出重大贡献，多次受到国务院、中央军委、机械电子工业部、电子工业部的表彰。1992年，有职工938人，其中工程技术人员185人。固定资产原值1953．5万元，净值1000万元。主要设备277台（套）。工业产值1023万元，利税77万元。

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INTERSCAN甲醛分析仪4160简介INTERSCAN4160 系列数字便携式小型分析仪是全球着名厂家美国 Interscan 公司 生产的专门用于检测空气中甲醛含量的直读式仪器，仪器内有电池供电的内置采样泵，检测元件是长寿命、高可靠性的电化学传感器。操作时，样气进入传感器，气体浓度以ppm 为单位直接显示。仪器的基本部件是：传感器、电池、电路。电路包括：零点补偿、传感器偏置、放 大器、报警单元、采样泵和液晶显示器等

哈哈哈……712是过去的军工厂，后来生产北京牌电视，“混改”可能归属TCL了吧。过去天津有不少军工企业，属于老二机局，754（光电）764（广播器材）4508……

土壤水势测定仪的简介土壤湿度和温度的准确测定是作物生长和粮食收获的重要工作。通过对土壤水分的检测，可以知道可以实施科学的灌溉管理措施，农业生产的正常进行。土壤水势测定仪可以在田间定位检测和观测土壤水势，从而可进一步获取土壤水分、导水率等土壤水利性质参数。该仪器利用张力计原理，结合一个或多个探头的方法，对传统技术进行了改进。 也可以只采购一套仪器，多个探头。可将探头长期埋于地下不同的深度和不同的被测地块，这样如果想知道某个点位的水势就可以将仪器接到探头上即可读出数值。

浅析轮廓仪的问世对人们生活所带来的影响引言在当代工业的奇妙世界中，艺术和技术的交汇点，我们发现了一个令人叹为观止的精密测量工具——轮廓仪。它犹如一位沉默的大师，准确地捕捉着物体的轮廓形状和曲线特征，将这些隐匿的美丽转化为数字的韵律。通过它的助力，制造过程中的质量控制和产品设计在我们眼前绽放出无尽可能。轮廓仪，作为一种神奇的仪器，穿越时光的长河，秉持着测量的使命。从古至今，它一直在与时间赛跑，不断进化，以满足工业的需求。我们可以追溯到过去的岁月，当人们艰辛地劳作着，却无法触及物体的真实轮廓。随着科技的进步，轮廓仪如同一颗璀璨的星星，闪耀着人类智慧的光芒。一、原理和分类原理轮廓仪的原理是基于物体表面轮廓的测量和分析。它通过感应器或传感器采集物体表面的数据，并将其转化为数字信号或图像，从而获取物体的形状和曲线特征。接触式轮廓仪：这种轮廓仪通过与物体直接接触来测量其轮廓形状。常见的接触式测量方法包括使用探针或测头触碰物体表面，并记录其位置变化。通过测量探针或测头的位置和移动轨迹，可以计算出物体表面的轮廓信息。非接触式轮廓仪：这种轮廓仪通过无需直接接触物体的方式来测量其轮廓形状。通过投射光线或激光束，或者使用相机记录物体的图像，轮廓仪可以根据光线或图像的变化来计算物体表面的轮廓信息。分类根据不同的测量原理和应用需求，轮廓仪可以被分为多种类型。以下是一些常见的轮廓仪分类方法：机械式轮廓仪：机械式轮廓仪是早出现的轮廓测量工具之一。它通过机械装置和测量仪器来测量物体的轮廓。典型的机械式轮廓仪包括投影仪和测微计等。机械式轮廓仪的优点是结构简单、成本低廉，但精度相对没有那么高。激光式轮廓仪：这种仪器是采用激光束的特性进行测量。它通过激光束的扫描或投射，测量物体表面的反射、散射或光斑变化，从而获得物体的轮廓数据。扫描式轮廓仪：扫描式轮廓仪通过扫描物体表面来获取其轮廓信息。它可以采用机械扫描或电子扫描的方式进行测量。在机械扫描中，测量头或传感器沿着物体表面移动，记录点的坐标信息；而在电子扫描中，传感器通过电子信号进行扫描，获取物体的轮廓数据。二、应用领域该仪器的高精度、高效率和多功能性使其成为现实制造行业中至关重要的一种仪器。下面我们就来详细介绍轮廓仪在各个领域的应用。汽车制造业：轮廓仪在汽车制造业中扮演着重要的角色。它被广泛应用于测量车身曲线、检查零部件的尺寸和形状，以及验证产品的质量和合格性。轮廓仪可以帮助制造商汽车外观的一致性和符合设计要求，从而提升产品质量和用户体验。航空航天领域：在航空航天领域，对于飞机零部件的精确尺寸和形状要求高。轮廓仪可以用于测量飞机零部件的轮廓、表面形貌和连接接口，其符合工程标准和设计要求。轮廓仪的高精度和非接触式测量特性使其成为航空航天领域中不可或缺的测量工具。电子行业：轮廓仪还可以用于评估显示屏的平整度、触摸屏的灵敏度和键盘按钮的凸起度，电子产品的质量和性能。医疗器械领域：调节患者所需的机器精确度和质量就显得重要。它可以用于检查人工假肢的适配性、牙科器械的准确度和外科手术器械的精度，从而提高医疗器械的质量和可靠性。通过对机器的多个方面可以看出，它在现实生活中的运用和科技所需十分重要。随着技术的不断进步，轮廓仪将继续发展和创新，为各个领域提供更精确、高效的测量解决方案。它的广泛应用将推动制造业的发展、科学研究的进步，并丰富人们的生活和文化。从这里可以看出轮廓仪的研究和应用具有重要意义，值得进一步深入探索和发展。参考文献[1]Smith, J. A., & Johnson, R. B. (2010). 轮廓测量简介.《国际测量科学杂志》, 7(2), 45-52.[2]Brown, T. S., & Williams, M. L. (2012). 光学轮廓测量：原理、方法和应用. CRC出版社.[3]Liu, C., Yao, F., & Hu, S. (2015). 激光扫描用于表面计量的综述.《精密工程学报》, 41, 1-11.[4]Jayaraman, S., & Zhang, M. (2017). 使用共焦显微镜的非接触表面计量：综述.《精密工程学报》, 48, 305-320.[5]Chen, C., & Fang, Z. (2018). 结构光三维表面成像的新进展.《传感器》, 18(6), 1858.